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廣州市富民測控科技有限公司

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    MFA 01微型近場探頭組

    • 測溫范圍:
    1. 詳細信息
    2. 選項卡二
    3. 選項卡三
    4. 選項卡四
    5. 選項卡五
    描述:由于集成電路集成度以及時鐘速率的不斷提高,PCB上存在大量雜散場和雜散電流,并以磁場形式相互耦合,導致產生GHz級別的輻射騷擾。最新的CISPR 22標準要求測量到6GHz。由于PCB上大量安裝高密度SMD器件,只有使用高分辨率探頭,才能真正找出問題所在。
    由于集成電路集成度以及時鐘速率的不斷提高,PCB上存在大量雜散場和雜散電流,并以磁場形式相互耦合,導致產生GHz級別的輻射騷擾。最新的CISPR 22標準要求測量到6GHz。由于PCB上大量安裝高密度SMD器件,只有使用高分辨率探頭,才能真正找出問題所在。

    Langer公司最新推出的新一代手持式有源近場探頭(MFA 01),頻率范圍覆蓋1MHz到6GHz,分辨率可達200µm,用于PCB布線、元器件和IC引腳的細致的磁場測量,能對集成電路引腳或SMD器件進行選擇性的測量,使用MFA-R 0.2-6探頭能診斷高頻磁場問題,使用MFA-K 0.1-12探頭能確定高頻電流。

    所有微型磁場探頭都有內置的放大器,BT 706偏置器給放大器提供供電。偏置器的阻抗為50?,為微型磁場探頭提供穩定的供電(9V/100mA),BT 706帶有一個12V/70mA的電源。微型磁場探頭以及偏置器采用SMA連接器。
     
    近場探頭組MFA 01包括:
    H-場探頭MFA-R 0,2-6
    H-場探頭MFA-R 0,2-75
    H-場探頭MFA-K 0,1-12
    偏置器BT 706
    電源適配器
    SMA-SMA電纜,長度1米
    盒子(340 x 240 x 55) mm

    MFA-R探頭能用于測量PCB上最小封裝的SMD器件(例如0603或者0201)。能測量非常精細的導體、SMD器件或IC引腳上的電流。
    MFA-K探頭,在設計上模擬電流卡鉗,可用于測量精細導體或者IC引腳上的電流,會忽略附近其他磁場分量。

    圖片關鍵詞